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SeisForge Studio 1.9.15 用户指南

SeisForge Studio 用于在 Windows x64 上浏览、质检和分析 SEG-Y。程序不会修改正在查看的源文件;只有用户明确执行导出时才创建新文件。

1. 首页与打开数据

首页提供三个明确入口:

  • 二维剖面:打开普通二维或规则数据的 Inline、Crossline、Time Slice 工作区。
  • 三维数据体:直接进入规则三维体窗口,不经过二维剖面。
  • 弯曲测线:先进入空白弯线工作区,再选择单个/多个 SEG-Y 或文件夹。

也可以把 .sgy / .segy 拖到首页。Recent 会记住最近文件、弯线文件集合或文件夹项目。显式选择的工作区优先,程序不会把用户指定的三维入口自动改成二维。

首次打开规则三维或弯线项目时,程序可能扫描道头并建立索引。此过程只读取必要元数据,进度和错误显示在当前工作区;异步识别失败不会悄悄跳转到另一个工作区。

2. 普通二维剖面

浏览

  1. 在“方向”选择 InlineCrosslineTime Slice
  2. 使用前后按钮、滑块或坐标输入框切换当前位置。
  3. 自动识别 从道头估计 Inline/Crossline 字节;方向名称相反时使用 IL/XL交换
  4. 左键拖出矩形以放大;双击剖面在最近一次放大范围和前一视图之间切换。
  5. 还原 返回当前数据加载范围。

Time Slice 需要可用的规则 IL/XL 几何。对于无法可靠识别的文件,应先检查道头字节设置,不要仅凭画面猜测方向。

A/B、差值与频谱

  • :加载或显示 B 数据。拖入第二个文件也可作为 B。
  • :显示 A-B;程序按当前几何坐标匹配实际道。
  • :计算当前可见范围的平均振幅频谱。
  • 十字联动:在 A、B 和差值面板间同步当前位置。
  • 矩形椭圆线段:添加屏幕标注;清除标注 删除当前标注。

色标和增益是显示参数,不改变源振幅。快捷键见快捷键表

单道查看

点击工具栏的 进入持续选道模式,再单击任一剖面:

  • A 面分析 A 的物理道,B 面分析 B 的物理道。
  • 差值面同时载入匹配的 A/B 道;采样间隔一致时附加 A-B 波形与频谱。
  • Inline/Crossline 按最近实际几何道选择;Time Slice 按点击的 IL/XL 查找真实道。

可以连续点击不同位置刷新同一分析窗口。再次点击 、按 Esc 或切换到其他绘图工具可退出。

3. 二维叠后弯线

建立项目

进入弯线工作区后可:

  • 打开文件:选择一个或多个 SEG-Y;单文件自动包装为单线项目。
  • 打开文件夹:只扫描文件夹当前层的 .sgy / .segy,不递归子目录。
  • 拖放一个文件夹或多个 SEG-Y。

程序按自然线名排序。若目录中存在可解析的 .dat 导航文件,会选择与 SEG-Y 线名匹配最多的导航;最终 Geometry、命中和伪三维仍以经校准的逐道 SEG-Y 坐标为准。损坏线在列表中显示错误,不阻断其他有效线。

坐标识别

默认自动候选顺序为:

  1. Ensemble X/Y:字节 181/185。
  2. Source X/Y:字节 73/77。
  3. Group X/Y:字节 81/85。

默认 CDP、坐标比例因子和坐标单位字节分别为 21、71、89。所有输入均使用 SEG-Y 1-based 字节位置。自动结果不正确时,打开 道头设置 修改 X、Y、CDP、比例因子和单位字节,再“应用并重建”。

比例因子按 SEG-Y 规则解释:正值相乘、负值相除、零按 1。导航校准只作用于显示副本,不写回 SEG-Y 或 .cidx

Geometry 与剖面

  • 上方 Geometry 显示项目轨迹,右侧列表切换活动线,下方只显示活动线剖面。
  • 单击轨迹选择最近测线/道;拖动矩形放大 Geometry;双击 Geometry 恢复全区。
  • 下方剖面左键拖动平移,滚轮以鼠标位置为中心缩放,剖面复位 恢复完整范围。
  • 横轴可选 TraceCDPDistance。Distance 使用累计坐标距离;角度坐标不会自动投影成米。
  • 只作用于下方剖面,可打开单道分析。

四种风格为 干净 / CIGVis / 解释 / 标准。风格与伪三维同步;干净模式隐藏辅助网格、标签和动态高亮,但操作中的选择框仍临时可见。

伪三维范围

  • 范围:在 Geometry 中拖动蓝色矩形,设置伪三维 XY AOI;下方二维剖面不裁剪。
  • 清除范围:恢复全项目伪三维候选。
  • 时间范围:在下方完整剖面中垂直拖动统一毫秒窗。
  • 清除时间:恢复完整记录时间。
  • Esc:取消正在进行的范围选择。

完全位于 AOI 或时间窗外的测线不会进入振幅读取队列。穿越边界的测线只生成框内连续幕布段。

4. 伪三维幕布

点击弯线工具栏的 打开非模态窗口。伪三维沿校准后的真实 XY 轨迹竖立各线的时间剖面,不在测线之间插值,也不生成体素体。

测线和进度

  • 有效且在范围内的测线默认勾选;复选框控制显示,列表焦点控制活动高亮。
  • 全选清空仅当前线可快速调整场景。
  • 加载状态依次显示准备、读取/解码、预览、最终渲染和明确的“完成 N/N”;部分失败时保留成功/失败数量。
  • 修改 AOI 时优先复用已有纹理并即时预览,仅为新增或边界部分补载。

联动和范围调整

  • 在弯线二维移动道/时间光标,伪三维会显示对应幕布位置;光标位于范围外时只提示,不自动扩大范围。
  • 双击已显示幕布可返回对应二维线、道和时间;双击空白不会切换窗口。
  • Ctrl+拖动 XY 外框边或角调整空间范围。
  • Ctrl+拖动时间起止面中央调整时间窗;拖动只预览,松开后提交。

导出范围

导出范围只在至少设置了 XY AOI 或时间窗,且存在已勾选、已完成显示的测线时启用。每条线导出为独立 SEG-Y,并生成 JSON 清单;相机旋转、缩放、遮挡和屏幕视锥不属于导出范围。

导出在后台运行,可取消。已完整提交的文件保留,当前未完成临时文件会清理;单线失败不会阻断其余线。

5. 规则三维体

加载和索引

三维入口创建独立窗口,并在后台执行:打开文件、识别几何、建立/读取 .lidx、加载首个切片。右侧进度条和状态文字显示当前阶段;缓存命中时可能快速跳到完成。

若 IL/XL 不正确,可用 识别 重新检测或在二维工作区检查 IL/XL 字节并交换方向。

三切片浏览

  • 顶部 IL、XL、T 控件改变三张正交切片的位置。
  • 三张切片使用同一 MapMin/MapMax,使相同色标值在三个方向代表相同振幅。
  • clip 99% 会抑制孤立极端填充值对共享范围的控制;零仍作为合法振幅参与统计。
  • 平铺在三维和三面平铺视图之间切换。
  • 双击某一切片进入该切片的 2D Full View;按 Esc 返回三维。
  • 在 2D Full View 中启用 ,单击可分析对应真实 IL/XL/样点位置的物理道。

加载 B;左右体可以独立浏览,与左图一致同步 B 到 A 的位置和相机。增加 A-B 三维残差视图。按自定义 IL/XL/Time 范围导出 A、B 或 A-B 子体。

完整相机和键盘操作见快捷键表

6. SEG-Y 文件与单道分析

分析窗口为只读、非模态窗口,可以保持打开并连续接收新的选道结果。

卷头

  • 文本卷头显示主文本卷头和正计数扩展文本卷头,可在自动、ASCII、EBCDIC CP037 间切换解码。
  • 二进制卷头显示文件摘要和 400 字节字段表。
  • Hex 默认收起,可展开查看完整原始字节。

道头

  • 道号在界面中为 1-based,可转到、上一道或下一道。
  • 表格列为“字节位置(1-based)/ 字段 / 原始值 / 解释值”。
  • 筛选可选 全部 / 关键 / 非零;“非零”只按原始整数是否为零判断。
  • 顶部固定显示来源、几何摘要、样点数/间隔一致性和警告。

单道分析

  • 波形采用时间向下、振幅横向,并用每像素包络保留尖峰。
  • 可分析当前二维可见时间窗或完整道。
  • 视觉范围可选 99% 自适应或全振幅;统计始终来自原始样点。
  • 统计包括 Min、Max、Mean、RMS、标准差、绝对峰值、零值、NaN/Inf 和有效样点数。
  • 频谱使用去均值、Hann 窗和零填充,显示完整 Nyquist 范围、归一化 dB、主频与 NFFT。

复制当前页生成带列头 TSV,可粘贴到 Excel,并包含当前摘要、警告、筛选字段和完整 Hex。分析窗口本身获得键盘输入时可按 Esc 关闭;焦点位于标准子控件时可使用“关闭”按钮。

7. 常见问题

三维切片接近全黑

先确认使用 1.9.11 或更新版本。当前版本会在三张切片上共享归一化,并用 99% clip 抑制孤立填充值。若启用了手动 Min/Max,先恢复自动范围再判断。

弯线没有轨迹或位置错误

检查道头设置中的 X/Y、CDP、比例因子和单位字节;确认坐标不是全零且至少存在多个不同位置。若使用导航文件,还应确认线名可与 SEG-Y 文件名匹配。

首次打开较慢

首次规则三维或弯线项目需要建立几何索引;伪三维首次显示还需生成纹理。后续打开会复用 .lidx.cidx.ptx。移动或修改源文件会使对应缓存失效,这是正常行为。

需要提交问题

在 GitHub Issue 中提供版本、工作区、操作步骤、预期结果和截图。若必须提供数据,请构造可复现的最小脱敏 SEG-Y,不要上传客户坐标、测线名或完整生产数据。